SN74BCT8245ADW参数规格_中文资料_数据手册PDF

SN74BCT8245ADW概述

八进制总线收发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

扫描测试设备，带总线收发器 IC 24-SOIC

得捷:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

立创商城:
SN74BCT8245ADW

贸泽:
特定功能逻辑 IEEE 1149.1

艾睿:
Bus XCVR Single 8-CH 3-ST 24-Pin SOIC Tube

安富利:
Bus XCVR Single 8-CH 3-ST 24-Pin SOIC Tube

Chip1Stop:
Bus XCVR Single 8-CH 3-ST 24-Pin SOIC Tube

Verical:
Bus XCVR Single 8-CH 3-ST 24-Pin SOIC Tube

Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC / Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC

SN74BCT8245ADW中文资料参数规格

技术参数

电源电压DC 4.50V ~ 5.50V

输出接口数 8

电路数 1

通道数 8

位数 8

传送延迟时间 10.0 ns

电压波节 5.00 V

耗散功率 1700 mW

输出电流驱动 -234 µA

工作温度Max 70 ℃

工作温度Min 0 ℃

耗散功率Max 1700 mW

电源电压 4.5V ~ 5.5V

电源电压Max 5.5 V

电源电压Min 4.5 V

封装参数

安装方式 Surface Mount

引脚数 24

封装 SOIC-24

外形尺寸

高度 2.35 mm

封装 SOIC-24

物理参数

工作温度 0℃ ~ 70℃

其他

产品生命周期 Active

包装方式 Each

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

REACH SVHC标准 No SVHC

REACH SVHC版本 2015/06/15

海关信息

ECCN代码 EAR99

数据手册

SN74BCT8245ADW引脚图与封装图

在线购买SN74BCT8245ADW

型号： SN74BCT8245ADW

制造商： TI 德州仪器

描述：八进制总线收发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

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