SN74ABTH18646APM

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SN74ABTH18646APM概述

内置18位收发器和寄存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

扫描测试设备,带收发器和寄存器 IC 64-LQFP(10x10)


得捷:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP


立创商城:
SN74ABTH18646APM


德州仪器TI:
Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers


艾睿:
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray


安富利:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray


Chip1Stop:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray


Verical:
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray


DeviceMart:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP


SN74ABTH18646APM中文资料参数规格
技术参数

电源电压DC 4.50V ~ 5.50V

输出接口数 18

通道数 18

位数 18

传送延迟时间 5.40 ns

电压波节 5.00 V

耗散功率 1000 mW

输出电流驱动 -500 µA

工作温度Max 85 ℃

工作温度Min -40 ℃

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

引脚数 64

封装 LQFP-64

外形尺寸

封装 LQFP-64

物理参数

工作温度 -40℃ ~ 85℃

其他

产品生命周期 Active

包装方式 Tray

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

海关信息

ECCN代码 EAR99

数据手册

SN74ABTH18646APM引脚图与封装图
SN74ABTH18646APM引脚图
SN74ABTH18646APM封装图
SN74ABTH18646APM封装焊盘图
在线购买SN74ABTH18646APM
型号: SN74ABTH18646APM
制造商: TI 德州仪器
描述:内置18位收发器和寄存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS
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SN74ABTH18646APM和SN74ABTH18646APMG4的区别

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