SN74BCT8240ADWR

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SN74BCT8240ADWR概述

八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS

Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC


得捷:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC


贸泽:
缓冲器和线路驱动器 Device w/Octal Inverting Buffers


艾睿:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R


Chip1Stop:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R


SN74BCT8240ADWR中文资料参数规格
技术参数

位数 8

静态电流 35 mA

工作温度Max 70 ℃

工作温度Min 0 ℃

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

封装 SOIC-24

外形尺寸

长度 15.4 mm

宽度 7.52 mm

高度 2.35 mm

封装 SOIC-24

物理参数

工作温度 0℃ ~ 70℃

其他

产品生命周期 Unknown

包装方式 Tape & Reel TR

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

数据手册

SN74BCT8240ADWR引脚图与封装图
SN74BCT8240ADWR引脚图
SN74BCT8240ADWR封装图
SN74BCT8240ADWR封装焊盘图
在线购买SN74BCT8240ADWR
型号: SN74BCT8240ADWR
制造商: TI 德州仪器
描述:八进制反相缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
替代型号SN74BCT8240ADWR
型号/品牌 代替类型 替代型号对比

SN74BCT8240ADWR

TI 德州仪器

当前型号

当前型号

SN74BCT8240ADW

德州仪器

完全替代

SN74BCT8240ADWR和SN74BCT8240ADW的区别

SN74BCT8240ADWRG4

德州仪器

完全替代

SN74BCT8240ADWR和SN74BCT8240ADWRG4的区别

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