SN74BCT8373ADWR概述
八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
贸泽:
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Type Latches
Chip1Stop:
Latch Transparent 3-ST 8-CH D-Type 24-Pin SOIC T/R
SN74BCT8373ADWR中文资料参数规格
SN74BCT8373ADWR引脚图与封装图 
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替代型号SN74BCT8373ADWR
| 型号/品牌 | 代替类型 | 替代型号对比 |
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