SN74ABT8543DWR

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SN74ABT8543DWR概述

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC


得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC


贸泽:
Specialty Function Logic Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver


Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC / Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC


SN74ABT8543DWR中文资料参数规格
技术参数

位数 8

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

封装 SOIC-28

外形尺寸

封装 SOIC-28

物理参数

工作温度 -40℃ ~ 85℃

其他

产品生命周期 Unknown

包装方式 Tape & Reel TR

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

数据手册

SN74ABT8543DWR引脚图与封装图
SN74ABT8543DWR引脚图
SN74ABT8543DWR封装图
SN74ABT8543DWR封装焊盘图
在线购买SN74ABT8543DWR
型号: SN74ABT8543DWR
制造商: TI 德州仪器
描述:IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
替代型号SN74ABT8543DWR
型号/品牌 代替类型 替代型号对比

SN74ABT8543DWR

TI 德州仪器

当前型号

当前型号

SN74ABT8543DW

德州仪器

完全替代

SN74ABT8543DWR和SN74ABT8543DW的区别

SN74ABT8543DWRG4

德州仪器

完全替代

SN74ABT8543DWR和SN74ABT8543DWRG4的区别

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