SN74BCT8374ADWR参数规格_中文资料_数据手册PDF

SN74BCT8374ADWR概述

与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

得捷:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

贸泽:
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop

SN74BCT8374ADWR中文资料参数规格

技术参数

频率 70.0 MHz

输出电流 64.0 mA

位数 8

电源电压 4.5V ~ 5.5V

封装参数

安装方式 Surface Mount

引脚数 24

封装 SOIC-24

外形尺寸

长度 15.4 mm

宽度 7.5 mm

封装 SOIC-24

物理参数

工作温度 0℃ ~ 70℃

其他

产品生命周期 Unknown

包装方式 Tape & Reel TR

符合标准

RoHS标准 RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free

数据手册

SN74BCT8374ADWR引脚图与封装图

在线购买SN74BCT8374ADWR

型号： SN74BCT8374ADWR

描述：与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

替代型号SN74BCT8374ADWR