SN74BCT8374ADWRE4概述
与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
贸泽:
Specialty Function Logic Fixed LDO Volt Reg
Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC / Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
SN74BCT8374ADWRE4中文资料参数规格
SN74BCT8374ADWRE4引脚图与封装图 
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替代型号SN74BCT8374ADWRE4
| 型号/品牌 | 代替类型 | 替代型号对比 |
|---|---|---|
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