S-2-E-4-G

S-2-E-4-G图片1
S-2-E-4-G图片2
S-2-E-4-G图片3
S-2-E-4-G图片4
S-2-E-4-G概述

INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB

Size 2, 0.100 Centerline, Spring Contact, Test Probe Use Spring Probes to maximize your testing efficiency, Short Stroke Probes are ideal for bare Board testing of conventional or SMT PCBs.

* Tip Style: Convex Tip

* Maximum Travel: 0.160 4.06 In.mm

* Spring Force: 4.0 Oz. @ 0.100 2.54 In.mm


e络盟:
# INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB


Allied Electronics:
Spring Contact Probe .100 size 2 centerline spacing 90 degree convex


Newark:
# INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  SPRING CONTACT PROBE, PCB


S-2-E-4-G中文资料参数规格
技术参数

触点电镀 Gold

额定电流 3 A

外形尺寸

长度 24.64 mm

物理参数

触点材质 Nickel

符合标准

RoHS标准 Non-Compliant

数据手册

在线购买S-2-E-4-G
型号: S-2-E-4-G
制造商: IDIInterconnect Devices
描述:INTERCONNECT DEVICES  S-2-E-4-G  弹簧探头, PCB
替代型号S-2-E-4-G
型号/品牌 代替类型 替代型号对比

S-2-E-4-G

IDIInterconnect Devices

当前型号

当前型号

S-2-E-7-G

IDIInterconnect Devices

功能相似

S-2-E-4-G和S-2-E-7-G的区别

锐单商城 - 一站式电子元器件采购平台