SN74BCT8240ADWRG4概述
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic
扫描测试设备，带反相缓冲器 IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
贸泽:
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic
Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC / Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
SN74BCT8240ADWRG4中文资料参数规格
SN74BCT8240ADWRG4引脚图与封装图 
在线购买SN74BCT8240ADWRG4
替代型号SN74BCT8240ADWRG4
| 型号/品牌 | 代替类型 | 替代型号对比 |
|---|---|---|
SN74BCT8240ADWRG4 TI 德州仪器 | 当前型号 | 当前型号 |
SN74BCT8240ADW 德州仪器 | 完全替代 | SN74BCT8240ADWRG4和SN74BCT8240ADW的区别 |
SN74BCT8240ADWR 德州仪器 | 完全替代 | SN74BCT8240ADWRG4和SN74BCT8240ADWR的区别 |
SN74BCT8240ADWRE4 德州仪器 | 完全替代 | SN74BCT8240ADWRG4和SN74BCT8240ADWRE4的区别 |