检查电子元件的表面和内部缺陷SMT制程改善&验证。
适用于电子元件结构分析,PCBA焊接缺陷、焊点锡形状及缺陷检测等。
取样 镶埋 研磨 抛光 腐蚀 观察拍照
IPC-TM650-2.1.1/2.25 IPC-A-610D
1.PCB结构缺陷:PCB分层、孔铜断裂等
2.PCBA焊接质量检验:
a.BGA空焊,虚焊,孔洞,桥接,上锡面积等;
b.产品结构分析:电容与PCB铜箔层数分析,LED结构分析、电镀工艺分析、材料内部结构缺陷等;
c.小尺寸测量(一般大于1)um):气孔大小、上锡高度、铜箔厚度等。
主要用途:是观察样品截面组织结构最常用的制样手段,
1.立体显微镜或金相测量显微镜常用于切片样品;
2.切片样品可用于SEM/EDS扫描电镜与能谱观察形貌与分析成份;
3.完成无损检测x-ray,SAM样品中发现的疑似异常开裂、异物嵌入等情况,可通过切片法观察验证;
4.切片后的样品可与FIB联用,做更细微的显微切口观察。