红外气体分析仪采用红外气体分析技术，根据分析元件的浓度，对辐射能量的吸收不同，其余辐射能使探测器的温度不同，运动膜两侧的压力不同，产生电容探测器的电信号，间接测量待分析元件的浓度。
红外气体分析仪是根据比尔定律制成的。假设被测气体为无限薄平面，强度为k如果红外线垂直穿透，能量衰减的量为：
I=I0×ekCL(比尔定律)
式中：I--辐射强度被介质吸收；
I0--介质前红外辐射强度；
k--待分析组分对辐射波段的吸收系数；
C--待分析成分的气体浓度；
L--气室长度(赦免气体层的厚度)
对于制造的红外气体分析仪，其测量成分已确定，即分析成分对辐射波段的吸收系数k一定；红外光源已确定，即介质前红外辐射强度I0一定；气室长度L一定。从比尔定律可以看出，辐射能量的衰减是通过测量来测量的I，待分析组分的浓度可以确定C了。
综上所述，红外线气体分析仪是基于气体对红外光吸收的郎伯--比尔吸收定律，采用国际上最新的NDIR技术， 例如，将红外光源与高灵敏度滤光传感器相结合，放大高精度前置 电路、可拆卸镀膜气室、局部恒温控制技术等，实现不同浓度和气体 （二氧化硫、氮氧化物、二氧化碳、一氧化碳、甲烷等）的高精度连续检测。