在使用电子元器件的过程中，经常会发生故障，影响设备的正常运行。分析了常见元器件的故障原因及常见故障。
绝大多数的电子设备的故障最终都是由于电子元件故障。如果故障类型熟悉的组件，你可以迅速找到故障元件可以通过直觉，有时只要未能找到一个简单的电压测量电阻。
电阻器类元件主要包括一个电阻元件和可变电阻元件，固定电阻我们通常可以称为电阻，可变电阻通常人们称为电位器。电阻器类元件在电子技术设备中使用的数量存在很大，并且是作为一种资源消耗功率的元件，由电阻器失效问题导致企业电子信息设备系统故障的比率比较高，据统计约占15% 。电阻器的失效分析模式和原因与产品的结构、工艺发展特点、使用环境条件等有密切相关关系。电阻器失效形式可分为以下两大类，即致命失效和参数漂移失效。现场管理使用情况统计结果表明，电阻器失效的85%~90% 属于自己致命失效，如断路、机械运动损伤、接触损坏、短路、绝缘、击穿等，只有1 0 % 左右的是由阻值漂移导致市场失效。
电阻电位器的失效机理因类型而异。 非线性电阻和电位器的主要失效模式为开路，电阻漂移，引线机械损伤和接触损伤；绕线电阻和电位器的主要失效模式为开路，引线机械损伤和接触损伤。 主要有四大类：
（1）碳膜电阻器。断丝，在基板的缺陷，和膜均匀性差，膜中的缺陷凹槽，所述膜材料的引线端是接触不良，在薄膜和基板的污染。
（ 2 ）金属膜电阻器。电阻膜不均匀、电阻膜破裂、引线不牢、电阻膜分解、银迁移、电阻膜氧化物进行还原、静电荷产生作用、引线出现断裂、电晕电流放电等。
（3）绕线电阻器。坏，电偶腐蚀，铅是不强，绝缘电线差，熔融的焊料等。
（4 ）可变电阻器。接触社会不良、焊接工作不良、接触一个簧片破裂或引线出现脱落、杂质进行污染、环氧胶不好、轴倾斜等。
电阻容易产生劣化和开路故障。在电阻变坏后，通常是电阻值的漂移变大。抵抗力量一般不会被修复，而是直接被新的抵抗力量所取代。线绕电阻时，电阻线烧毁，在某些情况下，烧毁处理可以重新焊接使用。
电阻变坏主要是由于散热不良、湿度过大或制造缺陷等原因，而烧坏则是由于电路不正常，如短路、过载等原因。电阻烧损有两种常见现象，一是电流过电阻引起的电阻烧损，电阻表面可见焦状，很容易发现。在其他情况下，电阻由于施加到电阻上的瞬时高压而开启或增加。在这种情况下，阻力表面一般不会发生显著变化。
的可变电阻器或电位器线绕和非线绕主要有两种。其常见的故障模式包括：参数漂移，开路，短路，接触不良，动态噪声，机械损伤等。但实际数据表明：实验室测试和现场使用完全不同的，没有实验室参数漂移大部分的主要失效形式，但现场接触不良，开居多。
电位器接触社会不良的故障，在现场管理使用中普遍发展存在。如在中国电信网络设备中达9 0 % ，在电视机中约占8 7 %，故接触一些不良对电位器是致命的薄弱环节。造成学生接触不良的主要问题原因分析如下：
（1）的接触压力过小，则应力松弛弹簧，偏离轨道或滑动接触的导电层，不正确的机械组件，以及大的机械负荷，或（例如，碰撞，跌落等），导致的变形接触弹簧等。
（2 ）导电层或接触社会轨道因氧化、污染，而在我们接触处形成以及各种不导电的膜层。
（3 ）导电层或电阻进行合金线磨损或烧毁，致使一个滑动接触点接触不良。
电位器开路故障主要由导致局部过热或机械损伤。例如，被生成的导电层或合金线电位，腐蚀，污染或过载的由于由局部过热不当处理（例如，非均匀的绕组，导电膜厚度不均匀性等）的耐氧化性，潜在烧坏开路;滑动接触表面不光滑，并且接触压力过大，会造成严重的磨损绕组被断开，导致开路;不当的选择和使用的电位器，或电子设备的潜在威胁的失败，它是在大负荷下的过载或工作。这将加速电位器损坏。
电容器常见的故障问题现象研究主要有击穿、开路、电参数退化、电解液泄漏及机械设备损坏等。导致我们这些系统故障的主要分析原因如下：
（1 ）击穿。介质中存在疵点、缺陷、杂质或导电离子；介质进行材料的老化；电介质的电化学击穿；在高湿度或低气压环境下极间边缘飞弧；在机械设计应力影响作用下电介质瞬时短路；金属离子迁移能力形成一个导电沟道或边缘飞弧放电；介质不同材料企业内部气隙击穿造成工作介质电击穿；介质在制造发展过程中需要机械系统损伤；介质材料知识分子利用结构的改变自己以及中国外加电压水平高于额定值等。
（2 ）开路。击穿问题引起不同电极和引线进行绝缘；电解电容器作为阳极可以引出箔被腐蚀断（或机械折断）；引出线与电极接触点氧化层而造成一个低电平开路；引出线与电极材料接触社会不良或绝缘；电解电容器阳极引出中国金属箔因腐蚀而导致我们开路；工作分析电解质的干涸或冻结；在机械结构应力影响作用下电解质和电介质环境之间的瞬时开路等。
（3）电气参数退化。 水分和介电老化和热分解；电极材料的金属离子迁移；残余应力的存在和变化；表面污染；材料金属化电极的自愈合效应；工作电解质的挥发和增厚；电极的电解腐蚀或化学腐蚀；铅和电极接触电阻的增加；杂质和有害离子的影响。
由于实际电容器在工作应力和环境应力的共同作用下运行，会产生一种或多种失效模式和失效机理，也会产生一种失效模式，导致另一种失效模式或失效机理。例如，温度应力不仅可以加速表面氧化，加速老化的影响程度，加速电参数的退化，而且还可以降低电场强度，加速介质击穿的早期到达，这些应力的影响是时间的函数。因此，电容器的失效机理与产品类型、材料类型、结构差异、制造工艺、环境条件、工作应力等因素密切相关。
电容器出现击穿故障问题非常简单容易研究发现，但对于有多个元件并联的情况，要确定一个具体的故障元件却较为经济困难。电容器开路故障的确定企业可通过将相同型号和容量的电容与被检测电容并联，观察电路设计功能结构是否能够恢复来实现。电容电参数不断变化的检查工作较为麻烦，一般可按照下面主要方法需要进行。
首先应将电容器的其中一条引线从电路板上烫下来，以避免周围元件的影响。其次根据电容器的不同情况用不同的方法进行检查。
（1 ）电解以及电容器的检查。将万用表可以置于电阻挡，量程视被测电解产生电容的容量及耐压能力大小情况而定。测量系统容量小、耐压高的电解过程中电容，量程应位于R &TImes;10kW 挡；测量容量大、耐压低的电解进行电容，量程应位于R &TImes; 1 k W 挡。观察自己充电工作电流的大小、放电发展时间不同长短（表针退回的速度）及表针最后一个指示的阻值。
电解电容器的品质如下:
①充电电流大，表针上升速度快，放电时间长，表针的退回速度慢，说明容量足。
充电电流小，表针上升慢，放电时间短，表针返回快，容量小，质量差。
③充电电流为零，表针不动，说明进行电解电容器发展已经出现失效。
四放电到底，针回到底指示阻值，表示绝缘性能好，漏液小。
⑤放电发展到最后，表针退回到终了时指示的阻值小，说明进行绝缘材料性能差，漏电问题严重。
（2 ）容量为1 mF 以上的一般电容器检查。可用万用表电阻挡（R &TImes; 1 0 k W）同极性多次测量法来检查漏电程度及是否击穿。将万用表的两根表笔与被测电容的两根引线碰一下，观察表针是否有轻微的摆动。对容量大的电容，表针摆动明显；对容量小的电容，表针摆动不明显。紧接着用表笔再次、三次、四次碰电容器的引线（表笔不对调），每碰一次都要观察针是否有轻微的摆动。如从第二次起每碰一次表针都摆动一下，则说明此电容器有漏电。如接连几次碰时表针均不动，则说明电容器是好的。如果第一次相碰时表针就摆到终点，则说明电容器已经被击穿。另外，对于容量为1mF~20mF的电容器，有的数字万用表可以测量。
（3 ）容量为1 mF 以下的电容器进行检查。可以通过使用一个数字学习万用表的电容传感器测量挡较为全面准确地测得电容器的实际问题数值。若没有带电容以及测量系统功能的数字万用表，只能用欧姆挡检查它是否发生击穿短路。用好的相同环境容量的电容器与被怀疑的电容器并联，检查它是否存在开路。
（4 ）电容器进行参数的精确控制测量。单个电容器市场容量的精确数据测量可使用LCR 电桥，耐压值的测量方法可采用晶体管技术特性测试仪。