特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic
扫描测试设备，带 D 型锁存器 IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
贸泽:
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic
| 型号 | 品牌 | 下载 |
|---|---|---|
| SN74BCT8373ADWRG4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383DW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT16212ADLRG4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383DWR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBTLV3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT16212AZQLR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT3383DBQR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBTLV3383PWE4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT3383DBR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383PWR | TI 德州仪器 | 下载 |