Scan Test Devices With 18Bit Inverting Bus Transceivers 56-TSSOP -40℃ to 85℃
Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP
| 型号 | 品牌 | 下载 |
|---|---|---|
| 74ABT18640DGGRG4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| 74ABT125PW,112 | NXP 恩智浦 | 下载 |
| 74ABT16245BDL,118 | NXP 恩智浦 | 下载 |
| 74ABT245DB,118 | NXP 恩智浦 | 下载 |
| 74ABT00PW TSSOP-14 | Philips 飞利浦 | 下载 |
| 74ABT16373MTDX | Fairchild 飞兆/仙童 | 下载 |
| 74ABT245C | National Semiconductor 美国国家半导体 | 下载 |
| 74ABT16245CSSCX SSOP-48 | Fairchild 飞兆/仙童 | 下载 |
| 74ABT16245MTDX | Fairchild 飞兆/仙童 | 下载 |
| 74ABT373ADB,112 | NXP 恩智浦 | 下载 |
| 74ABT573ADB,118 | NXP 恩智浦 | 下载 |