SN74ABT18640DGGR

SN74ABT18640DGGR概述

Scan Test Devices With 18Bit Inverting Bus Transceivers 56-TSSOP -40℃ to 85℃

扫描测试设备,带反相总线收发器 IC 56-TSSOP


得捷:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP


安富利:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 56-Pin TSSOP T/R


Win Source:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP / Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP


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SN74ABT18640DGGR

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