与八D型边沿触发触发器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
贸泽:
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
| 型号 | 品牌 | 下载 |
|---|---|---|
| SN74BCT8374ADWR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383DW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT16212ADLRG4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383DWR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBTLV3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT16212AZQLR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT3383DBQR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBTLV3383PWE4 | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CBT3383DBR | TI 德州仪器 | 下载 |
| SN74CB3T3383PWR | TI 德州仪器 | 下载 |