IC51-0804-956-2

IC51-0804-956-2概述

QFP 测试插座 - 蛤壳式用于 QFP 的蛤壳式测试插座装有弹簧 的铰接盖通过闩锁固定 IC 简单易用,可重复接入,用于测试 高可靠性和耐久性,温度范围宽 产品系列支持各种间距 主体材料玻璃填充 PES;玻璃填充 PEI 铍铜材料接头 触点镀金 绝缘电阻 1000 MΩ(在 500V 直流电压下) 接触电阻 30MΩ(在 10mA 条件下) 工作温度 -55°C 至 170°C 耐久性 10000 次插入 ### IC 插座-Yamaichi 测试与预烧

QFP 测试插座 - 蛤壳式

用于 QFP 的蛤壳式测试插座装有弹簧

的铰接盖通过闩锁固定 IC

简单易用,可重复接入,用于测试

高可靠性和耐久性,温度范围宽

产品系列支持各种间距

主体材料玻璃填充 PES;玻璃填充 PEI

铍铜材料接头

触点镀金

绝缘电阻 1000 MΩ(在 500V 直流电压下)

接触电阻 30MΩ(在 10mA 条件下)

工作温度 -55°C 至 170°C

耐久性 10000 次插入


欧时:
IC,socket,QFP,0.65mm pitch,80 way


贸泽:
IC 与器件插座 80 PIN QFP 0.65 MM


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