SN74LVTH18502APM

TEXAS INSTRUMENTS  SN74LVTH18502APM  芯片, 逻辑电路 - 扫描测试器

74LVTH 系列，Texas Instruments

高级低电压 BiCMOS 逻辑

工作电压：2.7 至 3.6

输入的总线保持功能无需较大的上拉电阻。

兼容性：输入 LVTTL/TTL，输出 LVTTL

得捷:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

立创商城:
SN74LVTH18502APM

德州仪器TI:
3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers

欧时:
### 74LVTH 系列，Texas Instruments高级低电压 BiCMOS 逻辑 工作电压：2.7 至 3.6 输入的总线保持功能无需较大的上拉电阻。 兼容性：输入 LVTTL/TTL，输出 LVTTL ### 74LVTH 系列

贸泽:
特定功能逻辑 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver

e络盟:
TEXAS INSTRUMENTS  SN74LVTH18502APM  芯片, 逻辑电路 - 扫描测试器

艾睿:
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray

安富利:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray

Chip1Stop:
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray

Verical:
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray

Newark:
# TEXAS INSTRUMENTS  SN74LVTH18502APM  Scan Test Device, 9 Channels, 2.7 V to 3.6 V, LQFP-64

DeviceMart:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP