与八路缓冲器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS
Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
得捷:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
贸泽:
特定功能逻辑 Device w/Octal Buffers
艾睿:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Non-Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R
安富利:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Non-Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R
Chip1Stop:
Scan Buffer/Line Driver 8-CH Non-Inverting 3-ST BiCMOS 24-Pin SOIC T/R
型号 | 品牌 | 下载 |
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SN74BCT8244ADWR | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CB3T3383DW | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBT16212ADLRG4 | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CB3T3383DWR | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBTLV3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBT16212AZQLR | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBT3383DBQR | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CB3T3383PW | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBTLV3383PWE4 | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CBT3383DBR | TI 德州仪器 | 下载 |
SN74CB3T3383PWR | TI 德州仪器 | 下载 |