SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4概述

特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic

扫描测试设备,带反相缓冲器 IC 24-SOIC


得捷:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC


贸泽:
特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Sacn Tst Devic


Win Source:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC / Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC


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SN74BCT8240ADWRG4

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