74LVTH182646APMG4和SN74LVTH182646APM

对比图 P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料

型号 74LVTH182646APMG4 SN74LVTH182646APM SN74LVTH182652APM

描述 3.3V ABT Scan Test Devices With 18Bit Transceivers And Registers 64-LQFP -40℃ to 85℃3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS3.3 -V ABT扫描测试了18位收发器和寄存器的器件 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

数据手册 ---

制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)

分类 逻辑芯片逻辑芯片逻辑芯片

基础参数对比

安装方式 Surface Mount Surface Mount Surface Mount

引脚数 64 64 64

封装 LQFP-64 LQFP-64 LQFP-64

电源电压(DC) 2.70V ~ 3.60V 2.70V ~ 3.60V 2.70V ~ 3.60V

输出接口数 18 18 18

通道数 - 18 18

位数 - 18 18

传送延迟时间 7.00 ns 7.00 ns 7.00 ns

电压波节 3.30 V, 2.70 V 3.30 V, 2.70 V 3.30 V, 2.70 V

输出电流驱动 -500 µA -500 µA -500 µA

电源电压 - 2.7V ~ 3.6V 2.7V ~ 3.6V

电路数 2 - -

封装 LQFP-64 LQFP-64 LQFP-64

工作温度 - -40℃ ~ 85℃ -40℃ ~ 85℃

产品生命周期 Active Active Active

包装方式 Tray Tray Tray

RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free Lead Free Lead Free

ECCN代码 - EAR99 EAR99

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