对比图
型号 SN74BCT8373ADW SN74BCT8373ANTE4 SN74BCT8373NT
描述 八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHESScan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70
数据手册 ---
制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)
分类 逻辑芯片逻辑芯片接口芯片
安装方式 Surface Mount Through Hole Through Hole
引脚数 24 24 -
封装 SOIC-24 PDIP-24 PDIP
电源电压(DC) 4.50V ~ 5.50V 4.50V ~ 5.50V -
输出接口数 8 8 -
位数 8 8 -
传送延迟时间 9.50 ns 9.50 ns -
电压波节 5.00 V 5.00 V -
输出电流驱动 -234 µA -234 µA -
频率 20 MHz - -
输出电流 64 mA - -
电路数 1 - -
输入数 8 - -
工作温度(Max) 70 ℃ - -
工作温度(Min) 0 ℃ - -
电源电压 4.5V ~ 5.5V - -
长度 15.4 mm 31.64 mm -
宽度 7.52 mm 7.62 mm -
封装 SOIC-24 PDIP-24 PDIP
高度 2.35 mm - -
产品生命周期 Active Active Obsolete
包装方式 Tube Tube -
RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant Non-Compliant
含铅标准 Lead Free Lead Free Contains Lead
REACH SVHC标准 No SVHC - -
重量 0.00999037261 kg - -
工作温度 0℃ ~ 70℃ - -
ECCN代码 EAR99 - -