对比图
型号 SN74BCT8373ADWG4 SN74BCT8373ANT SN74BCT8373DW
描述 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHESLatch Transparent 3-ST 8CH D-Type 24Pin SOIC
数据手册 ---
制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)
分类 逻辑芯片逻辑芯片逻辑芯片
安装方式 Surface Mount Through Hole Surface Mount
封装 SOP DIP-24 SOIC
引脚数 24 24 -
封装 SOP DIP-24 SOIC
产品生命周期 Active Active Obsolete
包装方式 Tube Tube -
RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant Non-Compliant
含铅标准 Lead Free Lead Free Contains Lead
电源电压(DC) 4.50V ~ 5.50V 4.50V ~ 5.50V -
输出接口数 8 8 -
输出电流 64.0 mA - -
传送延迟时间 9.50 ns 9.50 ns -
电压波节 5.00 V 5.00 V -
输出电流驱动 -234 µA -234 µA -
位数 - 8 -
工作温度(Max) - 70 ℃ -
工作温度(Min) - 0 ℃ -
电源电压 - 4.5V ~ 5.5V -
工作温度 - 0℃ ~ 70℃ -