1、掌握Multisim使用软件的方法。 2.掌握集成逻辑门的逻辑功能。 3.掌握集成和非门的测试方法。
二、实验原理
TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，因此称为三极管和三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74 工作环境温度为0-700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。 54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 该系列的区别仅在于工作环境温度和电源电压的工作范围，如54 系列和74 不同系列的区别。不同系列TTL 在设备中，只要设备型号的后几位数相同，其逻辑功能、形状尺寸和引脚排列就完全相同。 TTL 由于工作速度高、输出范围大、种类多、不易损坏，集成电路应用广泛，特别是对我们进行实验论证，选择TTL 电路更合适。因此，本实训教材大多采用74。LS(或74)系列TTL 集成电路的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为1≥2.4V，当低电平为0时≤0.4V。 它们的逻辑表达式是： 
以下是本实验中使用的基本逻辑门电路的逻辑符号图。
三、实验设备
硬件：计算机 2、软件：Multisim
四、实验内容及步骤
1.基本集成门逻辑电路测试 (1)测试门逻辑功能 74LS08为四个2输入端与门集成电路(见附录1)，请按下图构建电路，然后检测与门的逻辑功能，结果填入下表。 A B Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 (2)测试或门逻辑功能 74LS32为四个2输入端或门集成电路(见附录1)，请按下图构建电路，然后检测或门的逻辑功能，结果填入下表。 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 （3）测试非门逻辑功能 74HC04为6个单输入非门集成电路（见附录1），请按下图构建电路，然后检测非门的逻辑功能，并填写下表 A Y 0 1 1 0