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基于单片机控制的光强测试器的设计
作者：刘会巧
来源：数字技术与应用
2017
年第
08
期
摘要：本文以
ATmega8
单片机作为控制中心，利用光敏电阻设计光强
测试仪。该仪器可以测试不同等级的光强度，显示光等级，并进行无光状态
报警功能。
关键词:单片机；光敏电阻；光强；等级
中图分类号：
TP316.2
文献标识码：
A
文章编号：
1007-9416
(
2017
)
08-0003-02
如果没有合理的控制，光强测量器与人们的生活密切相关，不同的地方对照明有不同的要求
良好的照明会直接影响生产和生活，甚至影响健康和安全，因此有必要在不同的地方使用光强
光强测量控制测试器。因此，本文通过单片机设计和光敏电阻来设计光强测试器
计。
1
系统设计方案
1.1
设计目的
本文的设计目的是光强测试器能够测试不同的光照强度等级，并显示出光强等级，对无光
状态报警。
我们需要实现这个功能
AVR
单片机需要光敏电阻来测试光强度
根据外部光的强度改变电阻值的变化而异
判断光强；当没有光线时，需要蜂鸣器报警。
1.2
软件设计
根据光照强度器的设计目的，我们需要对
AVR
单片机编程实现显示光强等级
功能。
实现输出光强等级的程序：
TCNT0=0
；
TCNT1=0
；
//
定时器清零
DDRC&=
～
_BV
(
PC0
)；
DDRC&=
～
_BV
(
PC1
)；
while
((
PINC&0x01
)！
=0&&
(
PINC&0x02
)！
=0
)；