目前，最新的JS-002标准为2018年版，涵盖使用范围、试验目的、试验过程、试验方法及相关注意事项。本文主要讨论JS-002-2018的一些基本内容包括标准生成、应用设备和测试过程中的注意事项。
1.标准的产生
JS-002-2018中文译名为静电放电敏感性测试-带电器件模式（CDM）》，由JEDEC和ESDA联合写作，取代JEDEC之前的JESD22-C101和ANSI/ESD S5.3.1。
CDM是Charged Device Model首字母缩写，JS-002-2018中对CDM模型解释：设备本身带电（例如，设备表面的摩擦或通过电场感应），并在接触导电物体时快速放电，只有几纳秒。CDM是一种金属-金属放电，通过空气击穿电弧产生非常快的电荷转移，达到数十安培的峰值电流。CDM放电模式难以标准量化和再现CDM在模型中，观察到MOS典型的设备故障机制是介电损伤。
2.应用的器件
JS-如表1所示，002-2018如表1所示。需要注意的是，插接式放电模型测试仪不适用JS-002-2018。图1~图5是各种器件的示意图。
表1JS-002-2018应用的器件
| 应用的器件 | 器件特点 |
| 半导体器件 | 以MOS晶晶体管为主，成本低，应用最广泛。 |
表面声波（SAW）器件 SAW：surface acoustic wave |
广泛应用于工业和军事装备。体积小，结构牢固，频段宽，可大规模生产。 |
| 光电器件 | 将电能转化为光能的装置。它包括发光二极管、发光数字管等。 |
| 混合集成电路 | 混合集成电路具有装配密度高、可靠性高、电气性能好的特点。与单片集成电路相比，设计灵活，工艺方便，易于多品种小批量生产；组件参数范围广，精度高，稳定性好，电压高，功率大。 |
| 多芯片模块 | 小型化、多功能化、高性能、高可靠性。 |
图1MOS管
图2表面声波（SAW）器件
图3光电器件
图4混合集成电路
图5多芯片模块
3. 试验过程中的注意事项
CDM是破坏性试验，整个试验过程需要防静电措施。试验环境可用浓度不小于70%的异丙醇清洗。试验机如图6所示。
图6 CDM测试机台（Orion型）
Orion2型号使用指南可参考Orion2 CDM 操作系统-操作部分20211207
CDM检测机中的关键部件是探针，是检测带电器件放电的关键，如图6所示。根据JS-002-2018探针试验湿度不得超过30% RH，这是因为湿度越低，放电过程越明显。CDM试验温度应为室温。每个引脚或锡球至少需要正极放电一次，负极放电一次，两次放电时间应足够长。放电间隔长不会导致设备充电过多，只会增加试验时间。
在进行CDM之后，应对设备进行静态测试和动态测试。如果测试参数与客户参考数据表中的数据不一致，则视为无效。如果没有证明故障CDM故障可以排除。
需要注意的是，静态试验方法主要是引脚漏电和待机电流检测。静态试验不能直接说明设备故障，但可作为辅助说明。
若需补充试验，可依次按低温(-40℃）、常温（25℃）和高温（85℃）进行测试。
[1] 参照百度词条整理表1中的设备应用场景。
[2]图1~图6图片来自百度图片。