对比图
型号 SN74BCT8373ADW SN74BCT8373ADWR SN74BCT8373NT
描述 八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHESScan Test Device With Octal D-Type Latches 24-PDIP 0 to 70
数据手册 ---
制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)
分类 逻辑芯片逻辑芯片接口芯片
安装方式 Surface Mount Surface Mount Through Hole
引脚数 24 24 -
封装 SOIC-24 SOIC-24 PDIP
电源电压(DC) 4.50V ~ 5.50V 5.50V (max) -
输出电流 64 mA 64.0 mA -
位数 8 8 -
电源电压 4.5V ~ 5.5V 4.5V ~ 5.5V -
频率 20 MHz - -
输出接口数 8 - -
电路数 1 - -
传送延迟时间 9.50 ns - -
电压波节 5.00 V - -
输出电流驱动 -234 µA - -
输入数 8 - -
工作温度(Max) 70 ℃ - -
工作温度(Min) 0 ℃ - -
封装 SOIC-24 SOIC-24 PDIP
长度 15.4 mm - -
宽度 7.52 mm - -
高度 2.35 mm - -
工作温度 0℃ ~ 70℃ 0℃ ~ 70℃ -
重量 0.00999037261 kg - -
产品生命周期 Active Unknown Obsolete
包装方式 Tube Tape & Reel (TR) -
RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant Non-Compliant
含铅标准 Lead Free Lead Free Contains Lead
REACH SVHC标准 No SVHC - -
ECCN代码 EAR99 - -