对比图
型号 SN74BCT8373ADWR SN74BCT8373ADWRG4 SN74BCT8373ADW
描述 八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
数据手册 ---
制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)
分类 逻辑芯片逻辑芯片逻辑芯片
安装方式 Surface Mount Surface Mount Surface Mount
引脚数 24 24 24
封装 SOIC-24 SOIC-24 SOIC-24
电源电压(DC) 5.50V (max) 5.50V (max) 4.50V ~ 5.50V
输出电流 64.0 mA 64.0 mA 64 mA
位数 8 8 8
电源电压 4.5V ~ 5.5V 4.5V ~ 5.5V 4.5V ~ 5.5V
频率 - - 20 MHz
输出接口数 - - 8
电路数 - - 1
传送延迟时间 - - 9.50 ns
电压波节 - - 5.00 V
输出电流驱动 - - -234 µA
输入数 - - 8
工作温度(Max) - - 70 ℃
工作温度(Min) - - 0 ℃
封装 SOIC-24 SOIC-24 SOIC-24
长度 - - 15.4 mm
宽度 - - 7.52 mm
高度 - - 2.35 mm
工作温度 0℃ ~ 70℃ 0℃ ~ 70℃ 0℃ ~ 70℃
重量 - - 0.00999037261 kg
产品生命周期 Unknown Unknown Active
包装方式 Tape & Reel (TR) Tape & Reel (TR) Tube
RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant RoHS Compliant
含铅标准 Lead Free Lead Free Lead Free
REACH SVHC标准 - - No SVHC
ECCN代码 - - EAR99