SN74BCT8373ADWRE4和SN74BCT8373ADWRG4

对比图 P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料P4CE10F17C6N中文资料

型号 SN74BCT8373ADWRE4 SN74BCT8373ADWRG4 SN74BCT8373ADWR

描述 八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES特定功能逻辑 IEEE Std 1149.1 Bndry Scan Tst Devic八进制D类锁存器扫描测试设备 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

数据手册 ---

制造商 TI (德州仪器) TI (德州仪器) TI (德州仪器)

分类 逻辑芯片逻辑芯片逻辑芯片

基础参数对比

安装方式 Surface Mount Surface Mount Surface Mount

引脚数 24 24 24

封装 SOIC-24 SOIC-24 SOIC-24

电源电压(DC) 5.50V (max) 5.50V (max) 5.50V (max)

输出电流 64.0 mA 64.0 mA 64.0 mA

位数 8 8 8

电源电压 4.5V ~ 5.5V 4.5V ~ 5.5V 4.5V ~ 5.5V

封装 SOIC-24 SOIC-24 SOIC-24

工作温度 0℃ ~ 70℃ 0℃ ~ 70℃ 0℃ ~ 70℃

产品生命周期 Unknown Unknown Unknown

包装方式 Tape & Reel (TR) Tape & Reel (TR) Tape & Reel (TR)

RoHS标准 RoHS Compliant RoHS Compliant RoHS Compliant

含铅标准 Lead Free Lead Free Lead Free

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