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CIS芯片测试到底怎么测?

智能家居、智能城市和智能制造共同构建了我们生活的智能环境。图像传感器成为连接现实世界和数据网络的关键。CIS是CMOS图像传感器(CMOS Image Sensor)缩写具有尺寸小、敏感度高、集成度高、功耗低、成像速度快、成本低等优点,CIS芯片相机的核心部件,相机是所有智能技术的重要组成部分。当前,CIS芯片已广泛应用于手机、相机、汽车电子、安全等领域。

生活和工作模式在疫情冲击下加速数字化,智能生活成为新常态。视频会议、在线学习、消毒清洁机器人、无人机等,这种新的生活方式使世界各地CIS(CMOS根据图像传感器的需求,爆炸性增长IC Insights2021年全球最新报告CIS预计到2025年,全球市场规模将恢复强劲增长至228亿美元CIS市场规模为336亿美元。其中,手机是CIS预计到2025年将达到157亿美元,而汽车达到157亿美元,而汽车是增长最快的细分领域。预计未来五年行业复合增长率将达到33.8%,规模上升到51亿美元。其次是安全监控摄像头、工业机器人、物联网等领域的增长。

越来越多的移动应用程序使用多摄像头和指纹扫描摄像头技术来验证用户身份。随着芯片设计复杂性的增加,测试时间也在相应增加。此外,汽车应用领域验中,汽车应用领域也面临着低温和高温试验的影响,不同温度下的多次试验也显著增加了试验次数。随着图像传感器越来越复杂化,不断设计出更多新功能,CIS测试需求也多样化。

DC测试常见有OS、电压、电流等;Function测试常见有DFT和BITS相关测试。

由于CMOS图像传感器固有的设备结构特征,每个像素和列像素都有独立的放大器,放大器中较小的不匹配或偏差会产生图像传感器固定模式的噪声。因此在CMOS图像传感器图像传感器之前,需要对图像传感器进行使用CMOS校准图像传感器。CMOS常用的图像传感器校准光源有白炽灯、卤钨灯、LED灯。白炽灯和卤钨灯发光效率低,功耗大。与前两者相比,LED灯具具有节能、环保、寿命长、体积小、功耗小等特点LED作为CMOS校准光源的图像传感器。

目前,LED常用的光源调光方法有两种,一种是PWM调光,一种为DC调光;由于PWM调光,LED光源会出现频闪问题,现在大部分都用了DC调光。通过控制器控制不同色温LED光源,满足CIS sensor 测试要求。

1.图像采集(支持)CPHY/DPHY接口协议)

近年来随着CMOS图像传感器不断朝着高帧率化和高像素化的趋势发展,摄像头传输图像的数据量不断上升。通常用于有效的信号传输MIPI D-PHY与MIPI C-PHY两类传输接口, D-PHY采用单独的时钟同步线 数据Lane每一个传输结构Lane它由两条差分线组成,具有较强的抗干扰能力和驱动能力;C-PHY采用无独立时钟的三根电压驱动引线组成的复杂传输结构,抗干扰、驱动能力弱,因此对IC设计能力要求更高。但MIPI C-PHY采用5进制传输,能提供更高的吞吐量,优于D-PHY二进制,传输量为2.28倍,多用于高端手机平台。

2、图像测试

常见的图像测试有Blemish Test、Black Test、White Test等待测试项。通过算法识别和判断图像。

如何满足不同的测试需求,降低测试成本,加快测试时间和产品上市时间?国内第一个250加速科技发展的Mbps上述高性能术多年积累的高速分布式通信技术和高性能算法加速技术,提供了一套高性能、低成本的高性能数模混合信号测试机CIS测试解决方案。该解决方案支持64个.5Gbps MIPI D PHY接口采集满足了日益增长的高分辨率图像传感器需求,采用加速技术高达160Gbps高速图像采集、图像功能测试数据和分布式通信技术DC数据无缝集成。采用加速技术高性能算法加速技术,可以大大加快图像算法的处理时间,大大提高整体测试效率,同时允许客户创建和保护定制的图像测试算法IP。

?将Tester IPC布置CIS Server ATE Client

CIS Server:负责CIS整体测试业务测试

ATE Client:负责DC Function测试

?CIS Server

使用IPC自带的HP卡,控制Prober或Handlerd的动作

使用USB控制光源运动

使用网络,控制ATE Client和IMAGE Client的动作

?IMG Client

使用CIS高速图像采集测试系统(ST8016C),通过配置自制加速板卡,实现图像数据采集和图像测试加速赋能。

加速科技CIS测试方案有以下优点。

1.新的架构设计:

1)采用最新先进的通信技术框架,高性能,高可靠性,灵活扩展有保证;

2)模块化各测试功能,更换模块可实现不同的测试要求;

3)上位机与机箱一体化设计,系统性能无瓶颈,整体更可靠;

2.性能更强:

1)通信带宽可达400Gbps,实现高性能实时测试和数据传输;

2)高度集成,单板集成更多功能模块和通道,系统集成更多通道;

3)精心设计的模拟电路,确保测试参数误差小于0.1%;

4)基于FPGA加速技术,实现更强的计算能力、实时调度和全并行测试;

5)支持大Pattern最大的测试应用Vector Deepth达192M行,加载速率最快达到4.5分钟;

测试性价比高:

1)数字和混合信号架构设计可一次完成数字、模拟和射频信号测试;

2)优化客户应用设计,测试效率高,测试成本低;

3)针对设计公司和工厂提供不同优化的设备。

4.自有知识产权,深度定制

1)完全自有知识产权,可根据客户需求,开发定制测试方案,满足系统封装(SIP)、特色工艺(CIS/MEMS)等需求;

2)可多方向扩展,测试模块,PCBA;

3)根据客户科技成熟的高性能数字测试机平台和高性能测试机,根据客户的稳定需求FPGA开发能力,帮助客户开发传统测试机无法实现的测试方案和超高性价比的测试方案。

1、系统规格

?支持2.5Gbps MIPI D PHY接口,

?支持2.5Gsps ~3.5GspsC PHY (定制板卡)

?支持定制LVDS接口

?支持4~64颗并测

?支持4组40Gbps高速通信接口

?支持250Mbps/500Mbps/1Gbps数字板卡

?支持最高160通道数字电源

?支持客户定制光源

?搭配专业SoC实现强大的数字板卡 SoC 测试能力

?支持DC数据与图像功能测试数据集成管理

?开放FPGA图像测试算法在内部实现

2.集成操作界面

1)支持多种模式选择切换;

2)基于Eclips的IDE 开发环境,支持基于C/C 开发,开发简单易学;

3)操作维护方便。

3.算法加速优势

该测试方案具有高性能算法加速技术,可以大大提高整体测试时间,满足客户定制算法的要求。

4、稳定可靠

与其他测试机制造商相比,根据客户现场反馈,设备长期运行稳定可靠;

1.更全面的交钥匙方案

2.手把手赋能服务

?流程规范

?产品开发服务

? 驻厂服务

3.借鉴行业专家的快速优化迭代方案

? 行业了解行业

? 迭代的快速优化

CIS FT测试连接示意图

CIS CP测试连接示意图

以上就是今天带大家了解的。CIS测试要求和CIS芯片测试方案,欢迎想了解更多学生。

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