贴片光耦合是一种光耦合，光耦合结构又称历史光网隔离器或光电通过耦合器，简称光耦合。它是以光为媒介传输电信号的装置，通常是发光器(红外发光二极管)LED)包装在同一管壳内的受光器(光敏半导体管)。当输入端加电信号时发光器发出一个光线，受光器接受不同光线通过之后就产生最大光电流，从输出端流出，从而可以实现了“电—光—电”转换。
1.如何检查光耦的质量:
以确定的方式测量光耦合器的质量。以下是更可靠的检测方法。
1.将二极管和三极管的正反电阻值与万用表值进行比较，并与优秀光耦合器对应的脚电阻值进行比较，这是光耦合器损坏的标志。
2.数字万用表检测方法如下PC以111光耦检测为例，说明数字万用表检测方法，如图1所示。检测时，将光耦内接二极管 端脚和—端脚分别插入数字万用表的hfE的c，e此时，数字万用表应放置在插孔中NPN然后将光耦内接光电三极管c极脚接指针式万用表的黑表笔，e极脚接红表笔，拨打指针万用表Rxlk挡。这样，我们就可以通过使用指针万用表偏转不同角度的指针——实际上是光电流的变化来判断光耦合。 指针向右偏转的角度越大，光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之亦然如果针不移动，光耦就会损坏。
3.光电效应判断法仍然是PC以111光耦合器检测为例，检测电路如图2所示。万用表位置：Rxlk电阻挡，两个表笔分别连接到光耦的输出端 、 脚，然后用一节1.5V电池与50-100欧元的电阻串联后，电池的正极端连接PC111脚，负极接脚，或正极接脚，负极接脚，观察输出端万用表指针偏转。指针摆动，说明光耦好，不摆动，说明光耦损坏。万用表指针摆动偏转角越大，光电转换灵敏度越高。
2.测量817光耦的方法
方法1：使用数字万用表PN结测量端，红表笔电池 黑表笔电池-极接光耦笔电池-极耦合的2端(即使光耦合的发光二极管正向导通)。用另一个电表测量3和4端电阻，断开或连接输入端（发光检测二极管端），输出端电阻发展变化水平较大，表明光耦合良好。发光二极管单元串万用表的另一端可以用限流电阻代替。
方法2：确定光耦合器PC在817中提到的方法中，第一次检测用二极管显示发光端万用表光耦合器的配置文件，然后在发光端约5伏特的电压下确定晶体管的坏端。
方法3：将万用表放在万用表上R*100OΩ挡，黑表笔接1端红笔接2端，电阻一般为5KΩ-8KΩ，这个值是发光二极管的正向电阻，应该越小越好。反过来测量的反向电阻MΩ以上。然后黑笔接3端，红笔接4端，阻值应为100KΩ上面，表笔对调后，反侧的阻值应该是∞，否则说明光耦器损坏。在开关电源系统电路中，光耦出工作电压过高的常见原因。
这样，我们就不能证明这是好的，中国需要一步做。 同时使用两个万用表，使发光管发光，光电管导通可以证明良好。7或5号电池可用于1-2端子，测试时间不宜过长。
3.用万用表测量光耦的质量
1.用R×10档，依次测量输入端引脚和输出端引脚，其电阻值应无限大，即发射管与接收管之间无泄漏电阻；2.3Ⅴ将小电池串电位器连接到电位计的输入旋转轴上，查看集电极和发射极的电阻变化，然后正常输出。